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比表面檢測(cè) 比表面檢測(cè)儀

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BSD-660碳酸鈣比表面檢測(cè)

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碳酸鈣比表面檢測(cè) 是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過(guò)吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-PM全自動(dòng)比表面檢測(cè)

更新時(shí)間：2024-10-24

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全自動(dòng)比表面檢測(cè) 產(chǎn)品概述：◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類：各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；
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